ILT 5000 SED005WBS320W紫外光固化與光輻射危害及閃光燈測(cè)量系統(tǒng)

紫外光固化與光輻射危害及閃光燈測(cè)量系統(tǒng)的研究

光學(xué)分析的10多個(gè)進(jìn)制單位的動(dòng)態(tài)范圍

Pico-ammeter：10fA至1mA（從100fA至1mA校準(zhǔn)）

無(wú)線通信：內(nèi)置

用戶控制或自動(dòng)：范圍、規(guī)零/暗零、采樣率

4-20 mA輸出

15針D Sub和SMA輸入端口

“Set it & Forget It”遠(yuǎn)程數(shù)據(jù)記錄

電源：USB或內(nèi)置充電電池組

多系統(tǒng)同時(shí)連續(xù)監(jiān)測(cè)

包括DataLight II軟件和Labview采樣代碼

NIST可追溯/ISO17025認(rèn)證校準(zhǔn)

采樣率高達(dá)100 Hz，可編程

ILT 5000 SED005WBS320W紫外光固化與光輻射危害及閃光燈測(cè)量系統(tǒng)描述：

紫外敏感危害探測(cè)器設(shè)計(jì)為在250至400 nm的寬紫外波段上具有高靈敏度，用于紫外敏感危害研究

測(cè)量

測(cè)量范圍：2.33e-8至2.33e+0 W/cm2

光譜范圍：250–400 nm

配置：ILT5000*，SED005/WBS320/W（探頭）

*包括軟件

應(yīng)用：該檢測(cè)器經(jīng)過(guò)特殊配置，可準(zhǔn)確測(cè)量穿過(guò)UV波段的寬波部分，用于總UV靈敏度危險(xiǎn)監(jiān)測(cè)。

濾光片和輸入光學(xué)元件是可拆卸的，可以與探測(cè)器組件分開(kāi)購(gòu)買(mǎi)，以允許濾光片和輸入光學(xué)元件互換。

注：配置中不含圖片中的平板電腦。